Διεργασίες πλάσματος PDF
Document Details

Uploaded by HappierLarimar2949
National Technical University of Athens
Κόκκορης Γιώργος
Tags
Summary
Αυτό το έγγραφο περιγράφει τις διαδικασίες πλάσματος, όπως λιθογραφία, εγχάραξη και απόθεση, που χρησιμοποιούνται στην κατασκευή ηλεκτρονικών κυκλωμάτων. Περιγράφονται οι διαδικασίες και οι εφαρμογές τους σε μικροηλεκτρονικά συστήματα.
Full Transcript
Διεργασίες πλάσματος Εγχάραξη με πλάσμα Κόκκορης Γιώργος, [email protected], 2107723218 Διεργασίες πλάσματος 1 Διεργασίες κατασκευής στη μικροηλεκτρονική ▪ Λιθογραφία (lithography) ▪ Εγχάραξη ▪ Ξηρή (plasma or dry etching) ▪ Υγρή (wet etch...
Διεργασίες πλάσματος Εγχάραξη με πλάσμα Κόκκορης Γιώργος, [email protected], 2107723218 Διεργασίες πλάσματος 1 Διεργασίες κατασκευής στη μικροηλεκτρονική ▪ Λιθογραφία (lithography) ▪ Εγχάραξη ▪ Ξηρή (plasma or dry etching) ▪ Υγρή (wet etching) ▪ Απόθεση ▪ Φυσική απόθεση από ατμό (Physical vapor deposition, PVD) ▪ Χημική απόθεση από ατμό, Chemical vapor deposition (CVD, APCVD, LPCVD, PECVD) ▪ Εμφύτευση, Οξείδωση,... Διεργασίες πλάσματος 2 Δομές μικροηλεκτρονικής ▪ Παραδείγματα 500 nm 10μm αυλάκι Si, MOS transistor, Si, SiO2, οπή SiO2, οπή πυκνωτής poly-Si, TiSi2,.. επαφής μεταξύ διαφορετικών επιπέδων ενός ΟΚ ▪ Δομικά υλικά: Si, SiO2, πολυμερή (photoresists), Si3N4, Al, Cu, Ti, … Διεργασίες πλάσματος 3 Από τη μικροηλεκτρονική στη μικρο- και νανοτεχνολογία ▪ Διάχυση τεχνολογίας μικροηλεκτρονικής σε διαστημική, αυτοκινητοβιομηχανία, βιοχημεία, ιατρική,... ▪ Μικρο-ηλεκτρο-μηχανικά συστήματα (MEMS) ή μικροσυστήματα (MST) Σύστημα που συνδυάζει μικροσκοπικά στοιχεία ανίχνευσης, επεξεργασίας ή/και ενεργοποίησης κατασκευασμένα σε υπόστρωμα Si με τεχνικές αντίστοιχες αυτών που εφαρμόζονται στην κατασκευή ολοκληρωμένων κυκλωμάτων Διεργασίες πλάσματος 4 Από τη μικροηλεκτρονική στη μικρο- και νανοτεχνολογία ▪ Εικόνες SEM από μικροσυστήματα 100 μm 50 μm μικροελατήριο μικροανεμιστήρας 200μm 150 μm μικρομεμβράνη τμήμα αισθητήρα γλυκόζης στο αίμα Διεργασίες πλάσματος 5 Εγχάραξη - χρήσεις ▪ Κατασκευή δομών – μεταφορά σχήματος Απόθεση και σχηματοποίηση διαδοχικών επίπεδων στρωμάτων ▪ Τροποποίηση επιφανειών ▪ Επιφάνεια PDMS μετά από εγχάραξη σε πλάσμα SF6 Διεργασίες πλάσματος 6 Κατασκευή δομών στη μικρο- και νανο-κλίμακα ▪ Μεταφορά σχήματος με λιθογραφία και εγχάραξη (top-down approach) Επίστρωση φωτοευαίσθητου πολυμερούς στο φιλμ SiO2 Έκθεση σε ακτινοβολία μέσω μάσκας Υγρή εμφάνιση (διάλυση των φωτισμένων περιοχών) Εγχάραξη SiO2 με πλάσμα Αφαίρεση πολυμερούς Διεργασίες πλάσματος 7 Εγχάραξη με πλάσμα (ξηρή) και υγρή ▪ ισοτροπία με πλάσμα (συνήθως ανισοτροπική) υγρή (συνήθως ισοτροπική) εγχάραξη αυλακιών Si με πλάσμα HBr με πλάσμα SF6 Μεγαλύτερη ευελιξία στη σχηματοποίηση με την εγχάραξη με πλάσμα ▪ επιλεκτικότητα (selectivity) πλεονεκτεί η υγρή Διεργασίες πλάσματος 8 Εγχάραξη με πλάσμα ▪ Πλάσμα ▪ σχεδόν ουδέτερο ηλεκτρικά αέριο που αποτελείται από φορτισμένα (θετικά και αρνητικά ιόντα, ηλεκτρόνια) και ουδέτερα συστατικά και εμφανίζει συλλογική συμπεριφορά ▪ ο όρος αποδίδεται στον Langmuir (1881-1957) και χρησιμοποιήθηκε για πρώτη φορά το 1928 στην εργασία “Oscillations in Ionized Gases”, Proc. Nat. Acad. Sci. 14, 628 (1928). Προήλθε από την ελληνική λέξη «πλάθω» ή από την αντιστοιχία των εκκενώσεων με το πλάσμα του αίματος Διεργασίες πλάσματος 9 Αντιδραστήρας πλάσματος Γιατί είναι διαφορετική η αντιμετώπιση μιας επίπεδης επιφάνειας από μία δομή ; Διεργασίες πλάσματος 10 Συνήθη συστήματα υπόστρωμα-εγχαράκτης υπόστρωμ Εγχάραξη με πλάσμα α Si Fluorine (SF6), fluorocarbon (CF4, C2F6, CHF3, C4F8…), Cl, Br chemistry SiO2 Fluorocarbon chemistry Al Chlorine chemistry Polymer, oxygen chemistry photoresist Πώς επιλέγουμε τη χημεία ? Διεργασίες πλάσματος 11 Αντιδραστήρας πλάσματος Γιατί είναι διαφορετική η αντιμετώπιση μιας επίπεδης επιφάνειας από μία δομή ; Διεργασίες πλάσματος 12 Επιφανειακές διεργασίες κατά την εγχάραξη Διεργασίες πλάσματος 13 Επιφανειακές διεργασίες κατά την εγχάραξη ▪ Σε εγχαρασσόμενη με πλάσμα επιφάνεια δεν συμβαίνει μια απλή ετερογενής αντίδραση ▪ Πολυπλοκότητα ▪ ενεργά σωματίδια που βομβαρδίζουν και ενεργοποιούν την επιφάνεια ▪ πλήθος συστατικών που εγχαράσσουν ή/και αποτίθενται στην επιφάνεια ▪ συνεργιστική δράση συστατικών ▪ αναπτυσσόμενη τραχύτητα της επιφάνειας ▪... Π.χ σε επιφάνεια Si που εγχαράσσεται με πλάσμα CF4 CF4, CF3, CF2, CF, F, CF3+, CF2+, CF+ φτάνουν στην επιφάνεια και συμμετέχουν στις επιφανειακές διεργασίες Διεργασίες πλάσματος 14 Επιφανειακές διεργασίες κατά την εγχάραξη ◼ Οι διεργασίες ◼ ρόφηση ◼ αντίδραση ◼ διάχυση στην επιφάνεια ◼ εκρόφηση ◼ Το ελέγχον (αργό) στάδιο ; Διεργασίες πλάσματος 15 Ρόφηση και εκρόφηση ◼ Ρόφηση ◼ Φυσική, εξώθερμη, |ΔΗ|=10-40kJ/mol, πολλά στρώματα, δυνάμεις Van der Waals ◼ Χημική, εξώθερμη, |ΔΗ|=40-1000kJ/mol, συνήθως ένα στρώμα, δυνάμεις ομοιοπολικών ή ιοντικών δεσμών ◼ Περιγραφή ρόφησης – εκρόφησης με ισόθερμες ◼ Ισόθερμη ρόφησης: διάγραμμα που περιγράφει το ποσό ενός ροφημένου είδους σε επιφάνεια (κλάσμα κάλυψης) συναρτήσει της πίεσης αυτού του είδους στην αέρια φάση σε ισορροπία και σταθερή θερμοκρασία ◼ Παραδείγματα ◼ Langmuir (χημική) ◼ Freundlich ◼ Temkin ◼ Branauer-Emmett-Teller, BET (φυσική) Διεργασίες πλάσματος 16 Ρόφηση και εκρόφηση – Ισόθερμη Langmuir ▪ Ιδανική χημική ρόφηση: ρόφηση μέχρι κορεσμού της επιφάνειας, οπότε και σταματά η ρόφηση ▪ Παραδοχές ▪ δεν μπορεί να ξεπεράσει το ένα στρώμα ▪ όλες οι θέσεις ρόφησης ισοδύναμες, δεν υπάρχει προτίμηση ρόφησης ▪ η δυνατότητα ρόφησης σε μία θέση δεν εξαρτάται από την κάλυψη των γειτονικών θέσεων ρόφησης Α(g) Α(g) Α(g) + S → SΑ(s) ρόφηση S SΑ(s) → Α(g) + S εκρόφηση S = surface Διεργασίες πλάσματος 17 Ρόφηση και εκρόφηση – Ισόθερμη Langmuir ▪ ισοζύγιο θέσεων ρόφησης Α(g) Α(g) Α(g) + S → SΑ(s), ka θΑ+θS =1 S SΑ(s) → Α(g) + S, kd dθ καθαρός ρυθμός κατανάλωσης θέσεων ρόφησης = σ A ka j A (1 θA ) kd θ A ρυθμός κάλυψης θέσεων ρόφησης – dt ρυθμός δημιουργίας θέσεων ρόφησης ▪ θA: κλάσμα κάλυψης επιφάνειας S από το Α [SA(s)] ▪ σ: πυκνότητα θέσεων ρόφησης στην επιφάνεια ▪ στη μόνιμη κατάσταση: Κj A ka θA ,Κ nA c pA 1 Κj A kd jA , nA 4 kT Διεργασίες πλάσματος 18 Αντιδράσεις στην επιφάνεια ▪ μηχανισμός Langmuir-Hinshelwood (όλα τα αντιδρώντα έχουν προσροφηθεί) A(g),B(g) A(g),B(g),AB(g) SA(s) + SB(s) → AB(g) + 2S S θΑ + θΒ + θS=1 Ρυθμός αντίδρασης, R = kθAθB S Α Β. Διεργασίες πλάσματος 19 Αντιδράσεις στην επιφάνεια ▪ μηχανισμός Eley-Rideal (δεν έχουν προσροφηθεί όλα τα αντιδρώντα) SA(s) + B(g) → AB(g) + S A(g),B(g) A(g),B(g),AB(g) Ρυθμός αντίδρασης, R = kjBθA S θΑ + θΒ + θS=1 S Α Β Διεργασίες πλάσματος 20 Αντιδράσεις με την επιφάνεια (μηχανισμοί εγχάραξης) ▪ καθαρά χημική αντίδραση (pure chemical etching) A(g) A(g),SA(g) SΑ(s) → SΑ(g) (+ S) , SA πτητικό είδος S θΑ + θS=1 Ρυθμός εγχάραξης, R = k(T)θA , k(T) = Αexp[-Ea/(kBT)] Ea ενέργεια ενεργοποίησης, T θερμοκρασία επιφάνειας, A προεκθετικός όρος, kB σταθερά Boltzmann S Α ▪ ισοτροπία ▪ υψηλή επιλεκτικότητα Διεργασίες πλάσματος 21 Αντιδράσεις με την επιφάνεια (μηχανισμοί εγχάραξης) ▪ καθαρά χημική αντίδραση (pure chemical etching) A(g) A(g),SA2(g) Α(g) + SΑ(s) → SΑ2(g) (+ S), SΑ2 πτητικό είδος S θΑ + θS=1 Ρυθμός εγχάραξης, R = k (T) jAθA, k(T) = A exp[-Ea/(kBT)] Ea ενέργεια ενεργοποίησης, T θερμοκρασία επιφάνειας, A προεκθετικός όρος, kB σταθερά Boltzmann S Α ▪ ισοτροπία ▪ υψηλή επιλεκτικότητα Διεργασίες πλάσματος 22 Αντιδράσεις με την επιφάνεια (μηχανισμοί εγχάραξης) ▪ «ιονοβολή» (physical sputtering) Ion(g) Ion(g),S(g) Ion(g) + S → S(g) [+ S + Ion(g)] , k θS=1 S Ρυθμός εγχάραξης, R = k(E)jIONθS ,θS κλάσμα «καθαρής» επιφάνειας, k(E) = k0(E0.5 – Eth0.5), E ενέργεια ιόντων S ιόν ▪ ανισοτροπία ▪ χαμηλή επιλεκτικότητα ▪ μπορεί να εγχαράξει πολλά υποστρώματα ▪ χαμηλός ρυθμός εγχάραξης. Διεργασίες πλάσματος 23 Αντιδράσεις με την επιφάνεια (μηχανισμοί εγχάραξης) ▪ εγχάραξη υποβοηθούμενη από ιόντα (ion-enhanced etching) Ion(g) + SA(s) → SA(g) [+ S + Ion(g)] Ρυθμός εγχάραξης, R = k(E)jIONθΑ , k(E) = k0(E0.5 – Eth0.5) S Α ιόν ▪ ανισοτροπία ▪ ο κυρίαρχος μηχανισμός σε αρκετά συστήματα Διεργασίες πλάσματος 24 Κατάστρωση ισοζυγίων θέσεων ρόφησης ▪ έστω δίκτυο αντιδράσεων Α(g) + S → SΑ(s), k1 B(g) + S → SB(s), k2 SΑ(s) → Α(g) + S, k-1 SB(s) → B(g) + S, k-2 SA(s) + B(g) → AB(g) + S, k3 Ion(g) + SA(s) → SA(g) (+ S), k4 SA(s) + SB(s) → AB(g) + 2S, k5 ▪ οι εξισώσεις dθA σ k1jAθS – k-1θA – k3jBθA - k4jΙΟΝθA – k5θAθB dt dθ σ Β k2jBθS – k-2θB – k5θAθB , θS = 1 - θB – θA dt ▪ ρυθμός εγχάραξης, R = k4jIONθA ▪ συντελεστής προσκόλλησης Α, Β σε καθαρή επιφάνεια: k1 , k2 ▪ φαινόμενος συντελεστής προσκόλλησης Α, Β στην επιφάνεια SE,A jA = k1jAθS - k-1θA , SE,B jB = k2jBθS - k-2θB + k3jBθA Διεργασίες πλάσματος 25 Ο φαινόμενος συντελεστής προσκόλλησης ▪ ο φαινόμενος συντελεστής προσκόλλησης (effective sticking coefficient) ενός συστατικού i στην επιφάνεια ορίζεται ως το πηλίκο ροή του i που καταναλώνεται στην επιφάνεια S E ,i = ροή του i που φτάνει στην επιφάνεια σωματίδιο i που φτάνει στην επιφάνεια σωματίδιο i που εκροφάται από την επιφάνεια 3-2 S E ,i = = 0.333 3 S E ,i 0 παραγωγή του i στην επιφάνεια Διεργασίες πλάσματος 26 Κατάστρωση ισοζυγίων θέσεων ρόφησης ▪ έστω δίκτυο αντιδράσεων Α(g) + S → SΑ(s), k1 B(g) + S → SB(s), k2 SΑ(s) → Α(g) + S, k-1 SB(s) → B(g) + S, k-2 SA(s) + B(g) → AB(g) + S, k3 Ion(g) + SA(s) → SA(g) (+ S), k4 SA(s) + SB(s) → AB(g) + 2S, k5 ▪ ισοζύγιο θέσεων ρόφησης για τα SA(s) , SΒ(s) ▪ αναζητούμε τις αντιδράσεις που συμμετέχει το SA(s) [SB(s)] ▪ στο δεξιό μέλος: «δημιουργία» ροφημένου SA(s) (G) ή «κατανάλωση» θέσης ρόφησης ▪ στο αριστερό μέλος: κατανάλωση ροφημένου SA(s) ή «απελευθέρωση» ή «δημιουργία» θέσης ρόφησης, (L) ▪ καθαρός ρυθμός δημιουργίας SA(s) ή «κατανάλωσης» θέσεων ρόφησης = G - L ▪ φαινόμενος συντελεστής προσκόλλησης του Α(g) [B(g)] ▪ αναζητούμε τις αντιδράσεις που συμμετέχει το A(g) [B(g)] ▪ στο δεξιό μέλος: «δημιουργία» A(g) (G) ▪ στο αριστερό μέλος: «κατανάλωση» A(g) (L) ▪ η ροή του Α(g) που φαίνεται ότι κολλά στην επιφάνεια είναι SE,A jA= L - G Διεργασίες πλάσματος 27 Το σπουδαίο διάγραμμα – η επίδραση των ιόντων στην εγχάραξη ▪ δημιουργία ενός «κατεστραμμέ- νου», αυξημένης δραστικότητας, στρώματος ▪ τα ιόντα προσφέρουν ενέργεια για χημική αντίδραση ή εκρόφηση καθαρά χημική υποβοηθούμενη ιονοβολή ▪ τα ιόντα εγχαράσσουν στρώμα αντίδραση από ιόντα εγχάραξη που «παρεμποδίζει» την εγχάραξη Μπορούμε να αντιμετωπίσουμε χωριστά κάθε μηχανισμό ; [J. W. Coburn and H. F. Winters, ”Ion and electron assisted gas-surface chemistry. An important effect in plasma etching”, J. Appl. Phys. 50, 3189 (1979)] John W. Coburn Διεργασίες πλάσματος 28